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碳納米管|手性|確認碳納米管的金屬/半導體特性

  • 儀器品牌安捷倫
  • 經(jīng)營單位京科瑞達
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詳情介紹

驗證碳納米管的金屬/半導體特性

下圖表表示單壁碳納米管(SWNTs)的紫外光譜。

單壁碳納米管的手性(“扭轉(zhuǎn)變形”)決定了其直徑和物理性質(zhì)。例如:可確定其是否為金屬或半導體。這些性質(zhì)可反映電子結(jié)構(gòu)。UV-VIS-NIR分光光度計用于測量可見光區(qū)和近紅外區(qū)內(nèi)金屬和半導體的吸收光譜。

從圖表中可觀察到金屬和半導體產(chǎn)生的三條線的波數(shù)。通過計算各狀態(tài)密度,可預測三條線的波數(shù)分別代表碳納米管的光躍遷。自較低能量端開始,依次為:S1(半導體),S2(半導體)和M2(金屬)。

隨著單壁納米管(SWNT)直徑的減小,吸收光譜帶向高能量端轉(zhuǎn)移。直徑分布越廣,吸收峰范圍越寬。

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